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東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱
一、產(chǎn)品概況:
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)基本的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)JI高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
滿足的試驗(yàn)方法:GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn),符合MIL,IEC,JIS規(guī)范。
二、用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
三、冷熱沖擊箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。
2.GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
3.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
6.國(guó)標(biāo)GJB150.3-86;
7.國(guó)標(biāo)GJB150.4-86;
8.國(guó)標(biāo)GJB150.5-86;
三、技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:-40℃~150℃
高溫箱: +60℃~150℃
低溫箱: 0℃~-45℃;
2、溫度波動(dòng)度:±2℃;
3、溫度誤差:±2℃;
4、升溫速率:從常溫~150℃≤50min;
5、降溫速率:從常溫~-45℃≤60min;
6、制冷下限溫度:≤-45℃;
7、沖擊溫度:+150~-45℃;
8、工作室尺寸:600mm×420mm×610mm; (寬×高×深)
9、外形尺寸: 約1390*2120*1820mm; (寬×高×深),具體以實(shí)物為準(zhǔn)
10、 電源:380V±38V 50Hz±1Hz
11、功率:約16.5Kw
12、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤3min;
13、樣品架承重: 20Kg以內(nèi)。
東莞科迪KD-150L兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱,箱體外壁材料: 不銹鋼板。箱體內(nèi)壁材料:拉絲不銹鋼,要求不能反光。觀察窗:高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃觀察窗一個(gè)(350X250mm觀察窗上安裝照明燈。保溫材料:采用聚氨脂泡沫塑料經(jīng)高溫高壓發(fā)泡將外殼與低溫室連接成一個(gè)整體。樣品室動(dòng)方式:樣品靜置。。