高低溫試驗箱(東莞)滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》等國家標(biāo)準(zhǔn),以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進行設(shè)計制造,可進行各種高低溫環(huán)境試驗。
高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性,設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性,試驗時試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
主要技術(shù)參數(shù)型號 工作室尺寸(深×寬×高)mm 外形尺寸(深×寬×高)mm 功率(KW)
GDW-225B型 500×600×750 1200×1050×1850 3.5
溫度范圍
A型: 0℃~150℃ B型: -20℃~150℃ C型: -40℃~150℃
D型: -60℃~150℃ E型: -70℃~150℃
溫度均勻度: ≤ 2℃ (空載時)
溫度波動度: ±0.5℃ (空載時)
溫度偏差: ≤±2℃
降溫速率: 1.0℃/min (空載時)
時間設(shè)定范圍: 0~999.9 小時分鐘秒
參照標(biāo)準(zhǔn):
本產(chǎn)品滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》等國家標(biāo)準(zhǔn),以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴格按GB 10592—89《技術(shù)條件》進行設(shè)計制造,可進行各種高低溫環(huán)境試驗箱。